MBE tekniği ile büyütülen GaxIn1-xP/GaAs yapılarının kritik nokta enerjilerinin spektroskopik elipsometre ile incelenmesi

dc.contributor.author	EFKERE, Halil İbrahim
dc.contributor.author	KINACI, BARIŞ
dc.contributor.author	PİŞKİN, Emre
dc.contributor.author	MEMMEDLİ, Tofig
dc.contributor.author	ÖZÇELİK, Süleyman
dc.contributor.author	ÇETİN, Saime Şebnem
dc.date.accessioned	2021-03-03T08:31:36Z
dc.date.available	2021-03-03T08:31:36Z
dc.identifier.citation	ÇETİN S. Ş. , KINACI B., PİŞKİN E., EFKERE H. İ. , MEMMEDLİ T., ÖZÇELİK S., "MBE tekniği ile büyütülen GaxIn1-xP/GaAs yapılarının kritik nokta enerjilerinin spektroskopik elipsometre ile incelenmesi", 18. Yoğun Madde Fiziği Kongresi, Ankara, Türkiye, 25 Kasım 2011, ss.72
dc.identifier.other	vv_1032021
dc.identifier.other	av_17feeeb3-1341-40d2-b135-39c350ffb30a
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/20.500.12627/21457
dc.language.iso	tur
dc.subject	Temel Bilimler
dc.subject	Fizik
dc.subject	Temel Bilimler (SCI)
dc.title	MBE tekniği ile büyütülen GaxIn1-xP/GaAs yapılarının kritik nokta enerjilerinin spektroskopik elipsometre ile incelenmesi
dc.type	Bildiri
dc.contributor.department	Gazi Üniversitesi , ,
dc.contributor.firstauthorID	449480

Files in this item

Files	Size	Format	View
There are no files associated with this item.