Basit öğe kaydını göster

Statıstıcal Model of Hot-Carrier Degradation and Lifetime Prediction for P-MOS Transistors

dc.contributor.authorKuntman, Hakan
dc.contributor.authorKAÇAR, FIRAT
dc.contributor.authorKUNTMAN, AYTEN
dc.date.accessioned2021-03-05T10:53:16Z
dc.date.available2021-03-05T10:53:16Z
dc.identifier.citationKAÇAR F., KUNTMAN A., Kuntman H., "Statıstıcal Model of Hot-Carrier Degradation and Lifetime Prediction for P-MOS Transistors", TURKISH JOURNAL OF ELECTRICAL ENGINEERING AND COMPUTER SCIENCES, cilt.14, no.3, ss.2-37, 2006
dc.identifier.issn1300-0632
dc.identifier.othervv_1032021
dc.identifier.otherav_a570cb8f-18bf-4fa7-901c-4c666df7a395
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12627/110654
dc.identifier.urihttp://journals.tubitak.gov.tr/elektrik/issues/elk-06-14-3/elk-14-3-4-0606-4.pdf
dc.language.isoeng
dc.subjectMühendislik
dc.subjectMühendislik, Bilişim ve Teknoloji (ENG)
dc.subjectMühendislik ve Teknoloji
dc.titleStatıstıcal Model of Hot-Carrier Degradation and Lifetime Prediction for P-MOS Transistors
dc.typeMakale
dc.relation.journalTURKISH JOURNAL OF ELECTRICAL ENGINEERING AND COMPUTER SCIENCES
dc.contributor.departmentİstanbul Teknik Üniversitesi , ,
dc.identifier.volume14
dc.identifier.startpage2
dc.identifier.endpage37
dc.contributor.firstauthorID315038


Bu öğenin dosyaları:

DosyalarBoyutBiçimGöster

Bu öğe ile ilişkili dosya yok.

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster