Basit öğe kaydını göster

OFDM Kestiriminde Aradeğerleme Yöntemleri

dc.contributor.authorAKAN, AYDIN
dc.contributor.authorYALÇIN, MAHMUT
dc.date.accessioned2021-03-05T14:48:41Z
dc.date.available2021-03-05T14:48:41Z
dc.identifier.citationYALÇIN M., AKAN A., "OFDM Kestiriminde Aradeğerleme Yöntemleri", 18. IEEE Sinyal İşleme ve İletişim Uygulamaları Kurultayı, SİU-2010, Diyarbakır, Türkiye, 1 - 04 Nisan 2010, ss.272-275
dc.identifier.otherav_b8f8de7c-8564-4cc5-bad2-b9541e013f23
dc.identifier.othervv_1032021
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12627/123070
dc.language.isotur
dc.subjectMühendislik ve Teknoloji
dc.subjectMühendislik
dc.subjectMühendislik, Bilişim ve Teknoloji (ENG)
dc.titleOFDM Kestiriminde Aradeğerleme Yöntemleri
dc.typeBildiri
dc.contributor.departmentİstanbul Üniversitesi , ,
dc.contributor.firstauthorID610494


Bu öğenin dosyaları:

DosyalarBoyutBiçimGöster

Bu öğe ile ilişkili dosya yok.

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster