Basit öğe kaydını göster

A new time-dependent mobility degradation model for MOS transistors

dc.contributor.authorOzcelep, Yasin
dc.contributor.authorKuntman, AYTEN
dc.date.accessioned2021-03-05T16:32:02Z
dc.date.available2021-03-05T16:32:02Z
dc.date.issued2012
dc.identifier.citationOzcelep Y., Kuntman A., "A new time-dependent mobility degradation model for MOS transistors", MICROELECTRONICS INTERNATIONAL, cilt.29, ss.141-144, 2012
dc.identifier.issn1356-5362
dc.identifier.otherav_c11f59e1-fe17-473a-873d-81fd1cff480f
dc.identifier.othervv_1032021
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12627/128176
dc.identifier.urihttps://doi.org/10.1108/13565361211252890
dc.description.abstractPurpose - The purpose of this paper is to propose a time-dependent mobility degradation model which is independent from the process or operating conditions.
dc.language.isoeng
dc.subjectMalzeme Bilimi
dc.subjectMühendislik ve Teknoloji
dc.subjectBilgi Sistemleri, Haberleşme ve Kontrol Mühendisliği
dc.subjectSinyal İşleme
dc.subjectMALZEME BİLİMİ, MULTIDISCIPLINARY
dc.subjectMühendislik, Bilişim ve Teknoloji (ENG)
dc.subjectMühendislik
dc.subjectMÜHENDİSLİK, ELEKTRİK VE ELEKTRONİK
dc.titleA new time-dependent mobility degradation model for MOS transistors
dc.typeMakale
dc.relation.journalMICROELECTRONICS INTERNATIONAL
dc.contributor.departmentİstanbul Üniversitesi , ,
dc.identifier.volume29
dc.identifier.issue3
dc.identifier.startpage141
dc.identifier.endpage144
dc.contributor.firstauthorID17246


Bu öğenin dosyaları:

DosyalarBoyutBiçimGöster

Bu öğe ile ilişkili dosya yok.

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster