Basit öğe kaydını göster

dc.contributor.authorÇalışkan, Murat
dc.contributor.authorKURUOĞLU, Furkan
dc.contributor.authorSerin, Merih
dc.contributor.authorEROL, Ayşe
dc.contributor.authorYavuzçetin, Özgür
dc.date.accessioned2021-03-03T14:53:09Z
dc.date.available2021-03-03T14:53:09Z
dc.identifier.citationKURUOĞLU F., Yavuzçetin Ö., EROL A., Çalışkan M., Serin M., "Nanodot Exposure in Different size With Using Electron Beam Lithography", Turkish Physical Society 32nd International Physics Congrees, Muğla, Türkiye, 6 - 09 Eylül 2016, ss.1
dc.identifier.othervv_1032021
dc.identifier.otherav_3bf8c29e-bab2-4549-906d-9b58d3bbffe9
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12627/44258
dc.language.isoeng
dc.subjectTemel Bilimler
dc.subjectFizik
dc.subjectTemel Bilimler (SCI)
dc.titleNanodot Exposure in Different size With Using Electron Beam Lithography
dc.typeBildiri
dc.contributor.department, ,
dc.contributor.firstauthorID451365


Bu öğenin dosyaları:

DosyalarBoyutBiçimGöster

Bu öğe ile ilişkili dosya yok.

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster