Basit öğe kaydını göster

XRD, XPS, and optical characterizations of Al-doped ZnO film grown on GaAs

dc.contributor.authorŞAHİN, HÜLYA
dc.contributor.authorKARA, Kamuran
dc.contributor.authorALAGÖZ, SEZAİ
dc.contributor.authorESEN, RAMAZAN
dc.contributor.authorŞENADIM TÜZEMEN, EBRU
dc.date.accessioned2021-03-03T18:23:26Z
dc.date.available2021-03-03T18:23:26Z
dc.identifier.citationŞENADIM TÜZEMEN E., ŞAHİN H., KARA K., ALAGÖZ S., ESEN R., "XRD, XPS, and optical characterizations of Al-doped ZnO film grown on GaAs", TURKISH JOURNAL OF PHYSICS, cilt.38, ss.111-117, 2014
dc.identifier.issn1300-0101
dc.identifier.othervv_1032021
dc.identifier.otherav_4ec96f97-a3c0-40f9-b1f7-ad084bd5c14e
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12627/56254
dc.identifier.urihttp://journals.tubitak.gov.tr/physics/issues/fiz-14-38-1/fiz-38-1-13-1301-17.pdf
dc.language.isotur
dc.subjectFizik
dc.subjectTemel Bilimler (SCI)
dc.subjectTemel Bilimler
dc.titleXRD, XPS, and optical characterizations of Al-doped ZnO film grown on GaAs
dc.typeMakale
dc.relation.journalTURKISH JOURNAL OF PHYSICS
dc.contributor.departmentSivas Cumhuriyet Üniversitesi , ,
dc.identifier.volume38
dc.identifier.startpage111
dc.identifier.endpage117
dc.contributor.firstauthorID450386


Bu öğenin dosyaları:

DosyalarBoyutBiçimGöster

Bu öğe ile ilişkili dosya yok.

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster