Basit öğe kaydını göster

İkincil Konsolidasyon Modelinde Mikrografların Kullanılması

dc.contributor.authorÇİNİCİOĞLU, Safiye Feyza
dc.contributor.authorYiğit, İbrahim
dc.date.accessioned2021-03-03T20:10:35Z
dc.date.available2021-03-03T20:10:35Z
dc.identifier.citationYiğit İ., ÇİNİCİOĞLU S. F. , "İkincil Konsolidasyon Modelinde Mikrografların Kullanılması", Zemin Mekaniği ve Temel Mühendisliği 14. Ulusal Kongresi, ISPARTA, ,, Isparta, Türkiye, 1 - 04 Ekim 2012, ss.315-326
dc.identifier.otherav_5887d0f8-3de3-4aed-a6f2-65f23c2cd171
dc.identifier.othervv_1032021
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12627/62334
dc.language.isotur
dc.subjectMühendislik ve Teknoloji
dc.subjectMühendislik
dc.subjectMühendislik, Bilişim ve Teknoloji (ENG)
dc.titleİkincil Konsolidasyon Modelinde Mikrografların Kullanılması
dc.typeBildiri
dc.contributor.departmentİstanbul Üniversitesi , ,
dc.contributor.firstauthorID292412


Bu öğenin dosyaları:

DosyalarBoyutBiçimGöster

Bu öğe ile ilişkili dosya yok.

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster