Basit öğe kaydını göster

Mosfet’lerdeki Sıcak Taşıyıcı Etkisinin Weibull Dağılımı İle İncelenmesi

dc.contributor.authorkuntman, hakan
dc.contributor.authorKAÇAR, FIRAT
dc.contributor.authorKUNTMAN, AYTEN
dc.contributor.authorardalı, arda
dc.date.accessioned2021-03-02T20:21:34Z
dc.date.available2021-03-02T20:21:34Z
dc.identifier.citationardalı a., KUNTMAN A., KAÇAR F., kuntman h., "Mosfet’lerdeki Sıcak Taşıyıcı Etkisinin Weibull Dağılımı İle İncelenmesi", Elektrik-Elektronik-Bilgisayar Müh. 9. Ulusal Kongresi, Kocaeli, Türkiye, ss.359-362
dc.identifier.othervv_1032021
dc.identifier.otherav_0195fbf7-0d13-455a-8743-30810b789e92
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12627/7035
dc.language.isotur
dc.subjectMühendislik ve Teknoloji
dc.subjectMühendislik
dc.subjectMühendislik, Bilişim ve Teknoloji (ENG)
dc.titleMosfet’lerdeki Sıcak Taşıyıcı Etkisinin Weibull Dağılımı İle İncelenmesi
dc.typeBildiri
dc.contributor.departmentDiğer Kurumlar , ,
dc.contributor.firstauthorID315146


Bu öğenin dosyaları:

DosyalarBoyutBiçimGöster

Bu öğe ile ilişkili dosya yok.

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster