Basit öğe kaydını göster

dc.contributor.authorUĞUR, MUKDEN
dc.contributor.authorUZUNOĞLU, CENGİZ POLAT
dc.contributor.authorÇEKLİ, SERAP
dc.date.accessioned2021-03-04T09:40:23Z
dc.date.available2021-03-04T09:40:23Z
dc.identifier.citationUZUNOĞLU C. P. , ÇEKLİ S., UĞUR M., "Polimerik Yalıtkanlardaki Kaotik Yüzeysel İz Oluşumlarının Saklı Markov Modelleri İle Modellenmesi", Sinyal İşleme Uygulamaları Konferansı 2014, Trabzon, Türkiye, 23 - 25 Nisan 2014, ss.1-5
dc.identifier.othervv_1032021
dc.identifier.otherav_695926e1-366f-4762-ad6b-2c7bb34b0cdb
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12627/73001
dc.description.abstractBu çalışmada elektrik endüstrisinde kullanılan polimerik yalıtkanlardaki kaotik yüzeysel aşınım şekilleri incelenmiş ve modellenmiştir. Bu aşamada, IEC 587 standartlarına uygun olarak eğik düzlem test düzeneğinde yaşlandırılmış polimerik örnekler kullanılmıştır. Yalıtkan üzerinde oluşan şekiller görüntü işleme teknikleri ile temizlenerek karbonize is ve bozulmalardan arındırılmıştır. Polimerik malzemelerin yalıtkanlık özelliği çeşitli iç ve dış etkiler nedeniyle ciddi derecede azalabilir. Özellikle harici etkileri inceleyebilmek için örnekler nem ve titreşim etkisine maruz bırakılmıştır. Bu örneklerin incelenmesinde kaotik şekilleri analiz etmek için öne çıkan fraktal boyut kavramı kullanılmıştır. Analiz sonrası bu aşınımlar Saklı Markov Modelleri (SMM) ile modellenerek gerçekte oluşan şekillere benzer şekiller elde edilmiş ve ortam şartlarının etkisi göz önüne alınmıştır.
dc.language.isotur
dc.subjectMühendislik ve Teknoloji
dc.subjectMühendislik
dc.subjectMühendislik, Bilişim ve Teknoloji (ENG)
dc.titlePolimerik Yalıtkanlardaki Kaotik Yüzeysel İz Oluşumlarının Saklı Markov Modelleri İle Modellenmesi
dc.typeBildiri
dc.contributor.departmentMaltepe Üniversitesi , ,
dc.contributor.firstauthorID656284


Bu öğenin dosyaları:

DosyalarBoyutBiçimGöster

Bu öğe ile ilişkili dosya yok.

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster