Basit öğe kaydını göster

dc.contributor.authorAKAN, AYDIN
dc.contributor.authorÖZTÜRK, MAHMUT
dc.date.accessioned2021-03-04T10:46:22Z
dc.date.available2021-03-04T10:46:22Z
dc.identifier.citationÖZTÜRK M., AKAN A., "Çok Bileşenli İşaretler İçin Anlık Frekans Kestirimi", Elektrik – Elektronik – Bilgisayar Mühendisliği Sempozyumu, (ELECO-2002), Bursa, Türkiye, 1 - 04 Aralık 2002, ss.1-6
dc.identifier.otherav_6edcd860-ede6-416e-8a43-e90df2fd4b2b
dc.identifier.othervv_1032021
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.12627/76541
dc.language.isotur
dc.subjectMühendislik ve Teknoloji
dc.subjectMühendislik
dc.subjectMühendislik, Bilişim ve Teknoloji (ENG)
dc.titleÇok Bileşenli İşaretler İçin Anlık Frekans Kestirimi
dc.typeBildiri
dc.contributor.departmentİstanbul Üniversitesi , ,
dc.contributor.firstauthorID690095


Bu öğenin dosyaları:

DosyalarBoyutBiçimGöster

Bu öğe ile ilişkili dosya yok.

Bu öğe aşağıdaki koleksiyon(lar)da görünmektedir.

Basit öğe kaydını göster